Dispositif de mesure de caractéristiques photométriques d'un matériau

L’invention concerne un dispositif de mesure de caractéristiques photométriques d’un matériau (22), qui comporte :

• des moyens d’élaboration (16) d’un arrangement de N faisceaux lumineux secondaires collimatés et homogènes (iV), chacun desdits N faisceaux lumineux (iV) permettant d’insoler une surface déterminée (20, 28) dudit matériau (22) selon un premier angle d’incidence défini par rapport à la normale ( ) à ladite surface à insoler (20, 28) et selon un second angle d’incidence ß défini dans un plan (P) de ladite surface à insoler (20, 28),
• un capteur de luminance (24) pour capter la luminance réfléchie (V) par ladite surface insolée (20, 28), ledit capteur de luminance (24) étant écarté d’un angle d’observation a par rapport audit plan (P) de la surface à insoler (20, 28),
• des moyens d’acquisition et de traitement (18) du signal transmis par ledit capteur de luminance (24).